 ディスクドライブ搬送、クランピングおよびテスト
专利摘要:
ディスクドライブ（６００）を搬送し、ディスクドライブをテストスロット（５００、５００ｂ）内に載置するディスクドライブ搬送器（４００、４００ｂ、４００ｃ）は、ディスクドライブを受け取りサポートするように構成されたフレーム（４１０、４１０ｂ、４１０ｃ）を含む。フレームは、その間にディスクドライブを受け取るように構成され、ディスクドライブと共にテストスロット中に挿入されるようなサイズを持つ側壁（４１８、４２５ａ、４２５ｂ、４２９ａ、４２９ｂ）を含む。フレームはまた、側壁の少なくとも一つと動作的に関連付けられているクランプ機構（４５０）を含む。クランプ機構は、第一の係合エレメント（４７６、７００、７５０）と、第一の係合エレメントの動きを始動するように動作し得る第一のアクチュエータ（４５４、７１０、７６０）を含む。第一のアクチュエータは、フレームによってサポートされているディスクドライブがテストスロット中のテスト位置に配置された後に、第一の係合エレメントをテストスロットと係合するよう動かすように動作し得る。 公开号:JP2011507145A 申请号:JP2010539630 申请日:2008-12-10 公开日:2011-03-03 发明作者:エドワード ガルシア、；エフゲニー ポルヤコヴ、；ブライアン；エス． メロウ、 申请人:テラダイン、 インコーポレイテッド； IPC主号:G11B33-12
专利说明:
[0001] この開示は、ディスクドライブの搬送、クランピングおよびテストに関する。] 背景技術 [0002] ディスクドライブ製造者は典型的に、一集りの要求を満たしていることについて製造されたディスクドライブをテストする。多数のディスクドライブを直列的にまたは並列的にテストするテスト設備および技術が存在する。製造者は多数のディスクドライブを同時にまたはバッチでテストする傾向がある。ディスクドライブテストシステムは典型的には、テストのためにディスクドライブを受け取る多数のテストスロットを有した一つ以上のラックを含む。いくつかの場合には、ディスクドライブは、テストラックへの／からのディスクドライブの装填／抜き取りのために使われるキャリア中に置かれる。] [0003] ディスクドライブの直ぐ周辺のテスト環境は、緊密に規制される。テスト環境における最小の温度変動は、正確なテスト条件とディスクドライブの安全のために決定的である。より高い容量と、より速い回転速度と、より小さいヘッドクリアランスを有するディスクドライブの最新世代は、振動により敏感である。過大な振動はテスト結果の信頼性と電気的接続の完全性に影響を与えることができる。テスト条件下では、ドライブ自体がサポート構造または隣接するユニットへの固定を通して振動を伝播することができる。この振動の「クロストーク」は、振動の外部ソースと共に、バンプエラー、ヘッドスラップ、および非反復性ランアウト（ＮＲＲＯ）に貢献し、それらはより低いテスト歩留まりと増加した製造コストに結果としてなり得る。現行のディスクドライブテストシステムは、システム中の過大な振動に貢献しおよび／または大きな設置面積を要求する自動化および構造的サポートシステムを採用する。] [0004] いくつかの場合には、望ましくない振動と戦うために、振動を禁じるかまたは緩衝するようなやり方でディスクドライブがキャリアおよび／またはテスターラックにクランプされる。] [0005] 一側面では、ディスクドライブを搬送し、ディスクドライブをテストスロット内に載置するディスクドライブ搬送器は、ディスクドライブを受け取りサポートするように構成されたフレームを含む。フレームは、その間にディスクドライブを受け取るように構成され、ディスクドライブと共にテストスロット中に挿入されるようなサイズを持つ側壁のペアを含む。フレームはまた、側壁の少なくとも一つと動作的に関連付けられているクランプ機構を含む。クランプ機構は、第一の係合エレメントと、第一の係合エレメントの動きを始動するように動作し得る第一のアクチュエータを含む。第一のアクチュエータは、フレームによってサポートされているディスクドライブがテストスロット中のテスト位置に配置された後に、第一の係合エレメントをテストスロットと係合するよう動かすように動作し得る。] [0006] 実施形態は、以下の特徴の一つ以上を含むことができる。いくつかの実施形態では、第一のアクチュエータは、第一の係合エレメントをフレームによってサポートされているディスクドライブと係合するよう動かすように動作し得る。] [0007] 或る実施形態では、第一の係合エレメントは、第一と第二の係合部材を含む。いくつかの場合には、第一のアクチュエータは、第一と第二の係合部材の動きを始動するように動作し得る。] [0008] いくつかの実施形態では、第一のアクチュエータは、フレームによってサポートされているディスクドライブがテストスロット中のテスト位置に配置された後に、第一の係合部材をテストスロットと係合するよう動かすように動作し得る。いくつかの場合には、第一のアクチュエータは、第二の係合部材をフレームによってサポートされているディスクドライブと係合するよう動かすように動作し得る。] [0009] 或る実施形態では、第二の係合部材は、緩衝器を含む。緩衝器は、熱可塑性材および／または熱硬化性ゴム材から選択された緩衝材料を含んでも良い。緩衝器は、隔離または緩衝材料を含んでも良い。] [0010] いくつかの実施形態では、第一のアクチュエータは、第一と第二の係合部材をお互いに対して実質的に反対方向に動かすように動作し得る。いくつかの場合には、第一のアクチュエータは、第一と第二の係合部材を実質的に同時に動かすように動作し得る。] [0011] 或る実施形態では、第一の係合エレメントは、テストスロット中の嵌め合い特徴と係合するように構成された突出部を含む。] [0012] いくつかの実施形態では、第一の係合エレメントは、緩衝器を含む。緩衝器は、熱可塑性材および／または熱硬化性ゴム材から選択された緩衝材料を含んでも良い。] [0013] 或る実施形態では、第一の係合エレメントはばねクランプを含む。ばねクランプは、ベース部分と、第一と第二のばねアームを含む。第一と第二のばねアームは各々、ベース部分と接続された近位端とずらし可能な遠位端を含む。いくつかの場合には、アクチュエータは、第一と第二のばねアームの遠位端の動きを始動するように動作し得る。] [0014] いくつかの実施形態では、第一のアクチュエータは、第一の係合エレメントの動きを始動するようにフレームに対して旋回可能である。] [0015] 或る実施形態では、第一のアクチュエータは、第一の軸に沿って近位端から遠位端まで伸びている細長い本体を含む。第一のアクチュエータは、第一の係合エレメントの動きを始動するように第一の軸の周りを回転可能である。] [0016] いくつかの実施形態では、第一のアクチュエータは、第一の係合エレメントの動きを始動するようにフレームに対して線形的にずらし可能である。] [0017] 或る実施形態では、側壁の第一のものは第一のアクチュエータスロットを規定し、第一のアクチュエータは、第一のアクチュエータスロット内に少なくとも部分的に配置されている。いくつかの場合には、第一のアクチュエータは、第一の係合エレメントの動きを始動するように第一のアクチュエータスロット内で移動可能である。] [0018] いくつかの実施形態では、クランプ機構は第二の係合エレメントを更に含み、第一のアクチュエータは、第二の係合エレメントの動きを始動するように動作し得る。いくつかの場合には、 第一のアクチュエータは、フレームによってサポートされているディスクドライブがテストスロット中のテスト位置に配置された後に、第二の係合エレメントをテストスロットと係合するよう動かすように動作し得る。いくつかの場合には、第一のアクチュエータは、第二の係合エレメントをフレームによってサポートされているディスクドライブと係合するよう動かすように動作し得る。] [0019] 或る実施形態では、クランプ機構は、第二の係合エレメントと、第二の係合エレメントの動きを始動するように動作し得る第二のアクチュエータを含む。いくつかの場合には、第二のアクチュエータは、第二の係合エレメントの動きを始動するように第一のアクチュエータとは独立に動作し得る。或る場合には、第二のアクチュエータは、フレームによってサポートされているディスクドライブがテストスロット中のテスト位置に配置された後に、第二の係合エレメントをテストスロットと係合するよう動かすように動作し得る。いくつかの場合には、第二のアクチュエータは、第二の係合エレメントをフレームによってサポートされているディスクドライブと係合するよう動かすように動作し得る。] [0020] いくつかの実施形態では、第一のアクチュエータは、第一の係合エレメントの動きを始動するための駆動特徴を規定する。いくつかの場合には、駆動特徴は、楔と凹みを含む。] [0021] 或る実施形態では、フレームは側壁に接続された底板を含む。いくつかの場合には、側壁と底板は一緒に、サポートからディスクドライブを捕捉して離すための実質的にＵ字型の開口部を規定する。] [0022] 別の側面では、ディスクドライブテストスロットは、テストのためのディスクドライブを搬送しているディスクドライブ搬送器を受け取りサポートするためのテスト区画を規定するハウジングを含む。ハウジングはまた、テストのためのディスクドライブを搬送しているディスクドライブ搬送器の挿入と取り除きのためにテスト区画へのアクセスを提供する開放端を規定する。テストスロットはまた、ハウジングに載置された第一の係合エレメントを含む。第一の係合エレメントは、ディスクドライブ搬送器がテスト区画中に挿入された時にディスクドライブ搬送器によって搬送されているディスクドライブと係合するように構成されている。] [0023] 実施形態は、以下の特徴の一つ以上を含むことができる。いくつかの実施形態では、第一の係合エレメントはクランプばねを含む。] [0024] 或る実施形態では、第一の係合エレメントは緩衝器を含む。いくつかの場合には、緩衝器は、ディスクドライブ搬送器がテスト区画中に挿入された時にディスクドライブ搬送器によって搬送されているディスクドライブと係合するように構成されている。或る場合には、緩衝器は、熱可塑性材と熱硬化性ゴム材を含んだ緩衝材料を含む。] [0025] 更なる側面では、ディスクドライブテストシステムは、自動化されたマシーンと、ディスクドライブ搬送器を含む。ディスクドライブ搬送器は、ディスクドライブを受け取りサポートするように構成されたフレームを含む。自動化されたマシーンは、ディスクドライブ搬送器の動きを制御するようフレームと開放可能に係合するように構成されている。ディスクドライブテストシステムはまた、テストされるべきディスクドライブを格納する装填ステーションと、ディスクドライブを搬送しているディスクドライブ搬送器を受け取りサポートするように構成されたテストスロットを含む。自動化されたマシーンは、ディスクドライブ搬送器を利用して装填ステーションからディスクドライブを取り除き、その中にディスクドライブを有するディスクドライブ搬送器をテストスロット中に挿入するように動作し得る。] [0026] 実施形態は、以下の特徴の一つ以上を含むことができる。いくつかの実施形態では、自動化されたマシーンはロボットを含む。ロボットは、例えば、移動可能なアームと、移動可能なアームに接続されたマニピュレータを含むことができる。いくつかの場合には、マニピュレータは、ディスクドライブ搬送器の動きを制御するようフレームと開放可能に係合するように構成されている。或る場合には、ロボットは、ディスクドライブ搬送器を利用して装填ステーションからディスクドライブを取り除き、その中にディスクドライブを有するディスクドライブ搬送器をテストスロット中に挿入するように動作し得る。] [0027] 或る実施形態では、フレームは、自動化されたマシーンによって開放可能に係合可能であるように構成されたくぼみを規定する面板を含む。] [0028] いくつかの実施形態では、フレームは、クランプ機構を含む。いくつかの場合には、クランプ機構は、第一の係合エレメントと、第一の係合エレメントの動きを始動するように動作し得る第一のアクチュエータを含む。或る例では、第一のアクチュエータは、フレームによってサポートされているディスクドライブがテストスロット中のテスト位置に配置された後に、第一の係合エレメントをテストスロットと係合するよう動かすように動作し得る。或る場合には、自動化されたマシーンは、クランプ機構の動作を制御するように構成されている。いくつかの場合には、フレームは、その間にディスクドライブを受け取るように構成され、ディスクドライブのテストのためにディスクドライブと共にテストスロット中に挿入されるようなサイズを持つ側壁のペアを含む。いくつかの例では、クランプ機構は、側壁の少なくとも一つと動作的に関連付けられている。] [0029] 更に別の側面では、ディスクドライブを搬送し、ディスクドライブをテストスロット内に載置するディスクドライブ搬送器は、その間にディスクドライブを受け取るように構成され、ディスクドライブと共にテストスロット中に挿入されるようなサイズを持つ側壁のペアを有するフレームを含む。フレームはまた、側壁に接続された底板を含む。側壁と底板は一緒に、サポートからディスクドライブを捕捉して離すための実質的にＵ字型の開口部を規定する。] [0030] 更なる側面では、ディスクドライブをテストする方法は、ディスクドライブ搬送器と係合するように自動化されたマシーンを駆動することと、ディスクドライブ搬送器でディスクドライブを捕捉することと、それから、ディスクドライブ搬送器と捕捉されたディスクドライブをテストスロット中に挿入するように自動化されたマシーンを駆動することを含む。ディスクドライブを捕捉することは、自動化されたマシーンを使ってディスクドライブ搬送器をディスクドライブと係合するよう動かすことを含む。] [0031] 実施形態は、以下の特徴の一つ以上を含むことができる。或る実施形態では、自動化されたマシーンを駆動することは、ロボットアームを駆動することを含む。] [0032] いくつかの実施形態では、ディスクドライブ搬送器は、ディスクドライブ搬送器をテストスロットにクランプするように動作し得るクランプ機構を含み、方法は、クランプ機構を動作させるように自動化されたマシーンを駆動し、それによりディスクドライブ搬送器と捕捉されたディスクドライブがテストスロット中に挿入された後にディスクドライブ搬送器をテストスロットにクランプすることを含む。] [0033] 或る実施形態では、ディスクドライブを捕捉することは、ディスクドライブ搬送器をディスクドライブの下の位置に動かすように自動化されたマシーンを駆動することと、ディスクドライブ搬送器をディスクドライブと係合する位置に上げるように自動化されたマシーンを駆動することとを含む。] [0034] 別の側面では、ディスクドライブをテストする方法は、ディスクドライブを搬送しているディスクドライブ搬送器をテストスロット中に挿入するように自動化されたマシーンを駆動することと、クランプ機構を動作させるように自動化されたマシーンを駆動し、それによりディスクドライブ搬送器と捕捉されたディスクドライブがテストスロット中に挿入された後にディスクドライブ搬送器をテストスロットにクランプすることを含む。] [0035] 実施形態は、以下の特徴の一つ以上を含むことができる。いくつかの実施形態では、自動化されたマシーンを駆動することは、ロボットアームを駆動することを含む。] [0036] 或る実施形態では、方法は、クランプアッセンブリと係合するように自動化されたマシーンを駆動し、それによりディスクドライブ搬送器を捕捉されたディスクドライブにクランプすることを含んでも良い。] [0037] 更なる側面では、テストスロットアッセンブリは、テストスロットとディスクドライブ搬送器を含む。テストスロットは、テスト区画と、テスト区画へのアクセスを提供する開放端を規定するハウジングを含む。ディスクドライブ搬送器は、ディスクドライブを受け取りサポートするように構成されたフレームを含む。フレームは、その間にディスクドライブを受け取るように構成され、ディスクドライブと共にテスト区画中に挿入されるようなサイズを持つ側壁のペアを含む。フレームはまた、側壁の少なくとも一つと動作的に関連付けられているクランプ機構を含む。クランプ機構は、第一の係合エレメントと、第一の係合エレメントの動きを始動するように動作し得る第一のアクチュエータを含む。第一のアクチュエータは、フレームによってサポートされているディスクドライブがテスト区画中のテスト位置に配置された後に、第一の係合エレメントをハウジングと係合するよう動かすように動作し得る。] [0038] 実施形態は、以下の特徴の一つ以上を含むことができる。いくつかの実施形態では、第一の係合エレメントは、第一と第二の係合部材を含み、第一のアクチュエータは、第一と第二の係合部材の動きを始動するように動作し得る。いくつかの例では、第一のアクチュエータは、フレームによってサポートされているディスクドライブがテスト区画中のテスト位置に配置された後に、第一の係合部材をテストスロットと係合するよう動かすように動作し得て、第一のアクチュエータは、第二の係合部材をフレームによってサポートされているディスクドライブと係合するよう動かすように動作し得る。いくつかの場合には、第二の係合部材は、緩衝器を含む。いくつかの実装では、第一のアクチュエータは、第一と第二の係合部材をお互いに対して実質的に反対方向に動かすように動作し得る。いくつかの例では、第一のアクチュエータは、第一と第二の係合部材を実質的に同時に動かすように動作し得る。] [0039] 或る実施形態では、ハウジングは、その間にフレームの側壁を受け取るように構成された直立した壁のペアを含む。いくつかの場合には、直立した壁の第一のものは係合特徴を含み、第一の係合エレメントは係合特徴と係合するように構成された突出部を含む。いくつかの例では、第一のアクチュエータは、側壁がテスト区画に挿入された後に、突出部を係合特徴と係合するよう動かすように動作し得る。] [0040] 更に別の側面では、テストスロットアッセンブリは、ディスクドライブ搬送器とハウジングを含む。ディスクドライブ搬送器は、ディスクドライブを受け取りサポートするように構成されたフレームを含む。フレームは、その間にディスクドライブを受け取るように構成された側壁のペアを含む。側壁の第一のものは通過開口を規定する。ハウジングは、ディスクドライブ搬送器を受け取りサポートするためのテスト区画と、ディスクドライブ搬送器の挿入と取り除きのためにテスト区画へのアクセスを提供する開放端を規定する。テストスロットアッセンブリはまた、ハウジングに載置された第一の係合エレメントを含む。第一の係合エレメントは、ディスクドライブ搬送器がテスト区画中に挿入された時にディスクドライブ搬送器によって搬送されているディスクドライブと係合するよう通過開口を通して伸びるように構成されている。] [0041] 更なる側面では、ディスクドライブテストシステムは、自動化されたマシーンと、ディスクドライブ搬送器を含む。ディスクドライブ搬送器は、ディスクドライブを受け取りサポートするように構成されたフレームを含む。ディスクドライブ搬送器はまた、クランプ機構を含む。クランプ機構は、第一の係合エレメントと、第一の係合エレメントの動きを始動するように動作し得る第一のアクチュエータを含む。自動化されたマシーンは、クランプ機構の動作を制御するように構成されている。] [0042] 実施形態は、以下の特徴の一つ以上を含むことができる。いくつかの実施形態では、自動化されたマシーンは、ディスクドライブ搬送器の動きを制御するようフレームと開放可能に係合するように構成されている。] [0043] 或る実施形態では、自動化されたマシーンはロボットを含む。ロボットは、移動可能なアームと、移動可能なアームに接続されたマニピュレータを含んでも良い。いくつかの場合には、例えば、マニピュレータは、ディスクドライブ搬送器の動きを制御するようフレームと開放可能に係合するように構成されている。いくつかの例では、マニピュレータは、クランプ機構の動作を制御するように動作し得る。] [0044] いくつかの実施形態では、フレームは、自動化されたマシーンによって開放可能に係合可能であるように構成されたくぼみを規定する面板を含む。] [0045] 別の側面では、テストのためのディスクドライブを搬送する方法は、自動化されたマシーンを駆動し、それにより第一のディスクドライブを搬送しているディスクドライブ搬送器を第一のテストスロットと装填ステーションの間で動かすことと、第一のテストスロットと装填ステーションの間の動き中にディスクドライブ搬送器が第一のディスクドライブにクランプされるように、クランプ機構を動作させるように自動化されたマシーンを駆動することを含む。] [0046] 実施形態は、以下の特徴の一つ以上を含むことができる。いくつかの実施形態では、ディスクドライブ搬送器を第一のテストスロットと装填ステーションの間で動かすことは、第一のディスクドライブを搬送しているディスクドライブ搬送器を装填ステーションから第一のテストスロットへ動かすことを含む。] [0047] いくつかの実施形態では、ディスクドライブ搬送器を第一のテストスロットと装填ステーションの間で動かすことは、第一のディスクドライブを搬送しているディスクドライブ搬送器を第一のテストスロットから装填ステーションへ動かすことを含む。] [0048] 或る実施形態では、クランプ機構を動作させるように自動化されたマシーンを駆動することは、ディスクドライブ搬送器を第一のテストスロットと装填ステーションの間で動かすことに先立って、ディスクドライブ搬送器を第一のディスクドライブにクランプすることを含む。] [0049] いくつかの実施形態では、クランプ機構を動作させるように自動化されたマシーンを駆動することは、ディスクドライブ搬送器が第一のテストスロットと装填ステーションの間で動かされるにつれて、ディスクドライブ搬送器を第一のディスクドライブにクランプすることを含む。] [0050] 或る実施形態では、方法は、クランプ機構を動作させるように自動化されたマシーンを駆動し、それにより第一のディスクドライブからディスクドライブ搬送器をクランプ解除することと、それから、ディスクドライブ搬送器と第一のディスクドライブを第一のテストスロット中に挿入するように自動化されたマシーンを駆動することを含む。方法はまた、クランプ機構を動作させるように自動化されたマシーンを駆動し、それによりディスクドライブ搬送器と第一のディスクドライブが第一のテストスロット中に挿入された後にディスクドライブ搬送器を第一のテストスロットにクランプすることを含んでも良い。] [0051] いくつかの実施形態では、方法は、クランプ機構を動作させるように自動化されたマシーンを駆動し、それにより第一のテストスロットからディスクドライブ搬送器をクランプ解除することと、それから、ディスクドライブ搬送器を第一のテストスロットから取り除くように自動化されたマシーンを駆動することを含む。いくつかの場合には、方法はまた、クランプ機構を動作させるように自動化されたマシーンを駆動し、それによりディスクドライブ搬送器を第一のテストスロットから取り除くことに先立って第一のディスクドライブからディスクドライブ搬送器をクランプ解除することを含んでも良い。] [0052] 或る実施形態では、方法は、クランプ機構を動作させるように自動化されたマシーンを駆動し、それにより第二のテストスロットからディスクドライブ搬送器をクランプ解除することと、それから、自動化されたマシーンを駆動し、それによりディスクドライブ搬送器を第二のテストスロットから取り除くことを含む。いくつかの場合には、方法はまた、ディスクドライブ搬送器を第二のテストスロットから取り除いた後に、ディスクドライブ搬送器で第一のディスクドライブを装填ステーションから捕捉することを含む。第一のディスクドライブを捕捉することは、自動化されたマシーンを使ってディスクドライブ搬送器を第一のディスクドライブと係合するよう動かすことを含む。いくつかの例では、方法はまた、クランプ機構を動作させるように自動化されたマシーンを駆動し、それにより第二のディスクドライブからディスクドライブ搬送器をクランプ解除することを含む。ディスクドライブ搬送器を第二のテストスロットから取り除くことは、第二のディスクドライブを搬送しているディスクドライブ搬送器を第二のテストスロットから取り除くことを含む。方法はまた、自動化されたマシーンを駆動し、それにより第二のディスクドライブを搬送しているディスクドライブ搬送器を第二のテストスロットと装填ステーションの間で動かすことと、第二のテストスロットと装填ステーションの間の動き中にディスクドライブ搬送器が第二のディスクドライブにクランプされるように、クランプ機構を動作させるように自動化されたマシーンを駆動することを含んでも良い。いくつかの場合には、方法は、ディスクドライブ搬送器と第二のディスクドライブを装填ステーションにおけるディスクドライブレセプタクル中に挿入するように自動化されたマシーンを駆動することを含む。] [0053] いくつかの実施形態では、方法は、ディスクドライブ搬送器を第一のテストスロット中に挿入するように自動化されたマシーンを駆動することと、それから、クランプ機構を動作させるように自動化されたマシーンを駆動し、それによりディスクドライブ搬送器が第一のテストスロット中に挿入された後にディスクドライブ搬送器を第一のテストスロットにクランプすることを含む。] [0054] 更なる側面では、テストのためのディスクドライブを搬送する方法は、自動化されたマシーンを駆動し、それにより第一のディスクドライブを搬送しているディスクドライブ搬送器を第一のテストスロットと第二のテストスロットの間で動かすことと、第一のテストスロットと第二のテストスロットの間の動き中にディスクドライブ搬送器が第一のディスクドライブにクランプされるように、クランプ機構を動作させるように自動化されたマシーンを駆動することを含む。] [0055] 実施形態は、以下の特徴の一つ以上を含むことができる。いくつかの実施形態では、クランプ機構を動作させるように自動化されたマシーンを駆動することは、ディスクドライブ搬送器を第一のテストスロットと第二のテストスロットの間で動かすことに先立って、ディスクドライブ搬送器を第一のディスクドライブにクランプすることを含む。] [0056] いくつかの実施形態では、クランプ機構を動作させるように自動化されたマシーンを駆動することは、ディスクドライブ搬送器が第一のテストスロットと第二のテストスロットの間で動かされるにつれて、ディスクドライブ搬送器を第一のディスクドライブにクランプすることを含む。] [0057] 或る実施形態では、ディスクドライブ搬送器を第一のテストスロットと第二のテストスロットの間で動かすことは、第一のディスクドライブを搬送しているディスクドライブ搬送器を第一のテストスロットから第二のテストスロットに向けて動かすことを含む。いくつかの場合には、方法はまた、クランプ機構を動作させるように自動化されたマシーンを駆動し、それにより第一のテストスロットからディスクドライブ搬送器をクランプ解除することと、それから、ディスクドライブ搬送器を第一のテストスロットから取り除くように自動化されたマシーンを駆動することを含む。方法はまた、クランプ機構を動作させるように自動化されたマシーンを駆動し、それによりディスクドライブ搬送器を第一のテストスロットから取り除くことに先立って第一のディスクドライブからディスクドライブ搬送器をクランプ解除することを含んでも良い。] [0058] いくつかの実施形態では、方法は、クランプ機構を動作させるように自動化されたマシーンを駆動し、それにより第一のディスクドライブからディスクドライブ搬送器をクランプ解除することと、それから、ディスクドライブ搬送器と第一のディスクドライブを第二のテストスロット中に挿入するように自動化されたマシーンを駆動することを含む。いくつかの例では、方法はまた、クランプ機構を動作させるように自動化されたマシーンを駆動し、それによりディスクドライブ搬送器と第一のディスクドライブが第二のテストスロット中に挿入された後にディスクドライブ搬送器を第二のテストスロットにクランプすることを含む。] [0059] 発明の一つ以上の実施形態の詳細が、添付の図面と以下の記載に示されている。発明の他の特徴、目的および利点は、記載と図面から、および請求項から、明らかとなるであろう。] 図面の簡単な説明 [0060] 図１は、ディスクドライブテストシステムの斜視図である。 図２Ａは、テストラックの斜視図である。 図２Ｂは、図２Ａのテストラックからのスロットバンクの詳細斜視図である。 図３は、テストスロットアッセンブリの斜視図である。 図４Ａは、自己テストおよび機能テスト回路の概略図である。 図４Ｂは、自己テストおよび機能テスト回路の概略図である。 図５は、装填ステーションの斜視図である。 図６は、トートとディスクドライブの斜視図である。 図７は、ディスクドライブテストシステムの概略図である。 図８は、ディスクドライブ搬送器の分解斜視図である。 図９は、クランプ機構の斜視図である。 図１０Ａは、ばねクランプの斜視図である。 図１０Ｂは、ばねクランプの斜視図である。 図１１は、アクチュエータの斜視図である。 図１２Ａは、ディスクドライブ搬送器フレームの斜視図である。 図１２Ｂは、ディスクドライブ搬送器フレームの斜視図である。 図１３Ａは、ディスクドライブ搬送器のアッセンブリを描いている。 図１３Ｂは、ディスクドライブ搬送器のアッセンブリを描いている。 図１３Ｃは、ディスクドライブ搬送器のアッセンブリを描いている。 図１３Ｄは、ディスクドライブ搬送器のアッセンブリを描いている。 図１４は、ディスクドライブ搬送器の斜視図である。 図１５Ａは、ばねクランプが係合位置にあるディスクドライブ搬送器の断面平面図である。 図１５Ｂは、図１５Ａのばねクランプの一つの詳細図である。 図１６Ａは。ばねクランプが解除位置にあるディスクドライブ搬送器の断面平面図である。 図１６Ｂは、図１６Ａのばねクランプの一つの詳細図である。 図１７Ａは、ディスクドライブをサポートしているディスクドライブ搬送器の斜視図である。 図１７Ｂは、ディスクドライブをサポートしているディスクドライブ搬送器の平面図である。 図１８は、ディスクドライブにクランプされたディスクドライブ搬送器の平面図である。 図１９Ａは、テストスロットの斜視図である。 図１９Ｂは、図１９Ａのテストスロットからのテスト区画の斜視図である。 図２０Ａは、テストスロット中に挿入された、ディスクドライブをサポートしているディスクドライブ搬送器を示す平面図である。 図２０Ｂは、図２０Ａからのばねクランプの詳細図である。 図２１は、トートからディスクドライブを捕捉しているディスクドライブ搬送器の概略描写である。 図２２は、テストスロットアッセンブリの斜視図である。 図２３Ａは、テストスロットの斜視図である。 図２３Ｂは、図２３Ａのテストスロットからのテスト区画の斜視図である。 図２４は、クランプばねの斜視図である。 図２５Ａは、ディスクドライブ搬送器の斜視図である。 図２５Ｂは、ディスクドライブ搬送器の斜視図である。 図２５Ｃは、ディスクドライブをサポートしている図２５Ａと２５Ｂのディスクドライブ搬送器の斜視図である。 図２６Ａは、テストスロット中に挿入されたディスクドライブ搬送器を示す斜視図である。 図２６Ｂは、テストスロット中に挿入された、ディスクドライブをサポートしているディスクドライブ搬送器を示す平面図である。 図２７Ａは、ディスクドライブ搬送器の斜視図である。 図２７Ｂは、ディスクドライブ搬送器の斜視図である。 図２８は、ばねクランプの斜視図である。 図２９は、クランプアッセンブリの斜視図である。 図３０Ａは、係合位置にある図２９のクランプアッセンブリを描いている。 図３０Ｂは、解除位置にある図２９のクランプアッセンブリを描いている。 図３１は、ディスクドライブをサポートしている図２７Ａと２７Ｂのディスクドライブ搬送器の斜視図である。 図３２は、テストスロット中に挿入された、ディスクドライブをサポートしているディスクドライブ搬送器を示す平面図である。 図３３Ａは、ディスクドライブ搬送器の斜視図である。 図３３Ｂは、ディスクドライブ搬送器の斜視図である。 図３４は、ばねクランプの斜視図である。 図３５は、クランプアッセンブリの斜視図である。 図３６Ａは、係合位置にあるアクチュエータを示すディスクドライブ搬送器の側面図である。 図３６Ｂは、係合位置にある図３５のクランプアッセンブリを描いている。 図３７Ａは、解除位置にあるアクチュエータを示すディスクドライブ搬送器の側面図である。 図３７Ｂは、解除位置にある図３５のクランプアッセンブリを描いている。 図３８は、ディスクドライブをサポートしている図３３Ａと３３Ｂのディスクドライブ搬送器の斜視図である。] 図１ 図１０Ａ 図１０Ｂ 図１１ 図１２Ａ 図１２Ｂ 図１３Ａ 図１３Ｂ 図１３Ｃ 図１３Ｄ 実施例 [0061] 様々な図面における同様の参照符号は同様の要素を示す。] [0062] システムの概要 図１に示されるように、ディスクドライブテストシステム（１０）は、複数のテストラック１００（例えば、１０個のテストラックが示されている）と、装填ステーション２００と、ロボット３００を含む。図２Ａと２Ｂに示されるように、各テストラック１００は複数のスロットバンク１１０を含み、各スロットバンク１１０は複数のテストスロットアッセンブリ１２０を保持する。図３に示されるように、各テストスロットアッセンブリ１２０は、ディスクドライブ搬送器４００とテストスロット５００を含む。ディスクドライブ搬送器４００は、ディスクドライブ６００（図６）を捕捉し（例えば、装填ステーションから）、ディスクドライブ６００をテストのためにテストスロット５００の一つに搬送するために使われる。] 図１ 図２Ａ 図３ 図６ [0063] 図４Ａを参照すると、いくつかの実装では、ディスクドライブテストシステム１０はまた、テストスロット５００と通信している少なくとも一つのコンピュータ１３０を含む。コンピュータ１３０は、ディスクドライブ６００の在庫コントロールおよび／またはディスクドライブテストシステム１０を制御する自動化インターフェースを提供するように構成されていても良い。温度制御システム１４０は、各テストスロット５００の温度を制御する。温度制御システム１４０は、テストスロット５００を通して空気を循環させるように動作し得る空気移動器（例えば、ファン１４２）を含むことができる。振動制御システム１５０は、各テストスロット５００の振動を制御する。データインターフェース１６０は、各テストスロット５００と通信している。データインターフェース１６０は、テストスロット５００内のディスクドライブ６００と通信するように構成されている。] 図４Ａ [0064] 図４Ｂに示されるように、パワーシステム１７０は、ディスクドライブテストシステム１０にパワーを供給する。パワーシステム１７０は、テストスロット５００中のディスクドライブ６００へのパワーを監視および／または規制しても良い。図４Ｂに描かれた例では、各ラック１００は、少なくとも一つのテストスロット５００と通信している少なくとも一つの自己テストシステム１８０を含む。自己テストシステム１８０は、クラスターコントローラ１８１と、テストスロット５００内のディスクドライブ６００と電気通信している接続インターフェース回路１８２と、接続インターフェース回路１８２と電気通信しているブロックインターフェース回路１８３を含む。クラスターコントローラ１８１は、いくつかの例では、約１２０個の自己テストおよび／または６０個のディスクドライブ６００の機能性テストの容量で一つ以上のテストプログラムを実行するように構成されている。接続インターフェース回路１８２とブロックインターフェース回路１８３は、自己テストをするように構成されている。ただし、自己テストシステム１８０は、ディスクドライブテストシステム１０の一つ以上の部品上で自己テストルーティンを実行し制御するように構成された自己テスト回路１８４を含んでいても良い。クラスターコントローラ１８１は、イーサネット（登録商標）（例えば、ギガビットイーサネット（登録商標））を介して自己テスト回路１８４と通信していても良く、それはユニバーサル非同期受信機／送信機（ＵＡＲＴ）シリアルリンクを介してブロックインターフェース回路１８３と、そして接続インターフェース回路１８２とディスクドライブ６００まで通信しても良い。ＵＡＲＴは通常、コンピュータまたは周辺機器シリアルポートの上でシリアル通信のために使われる個別の集積回路（またはその一部）である。ブロックインターフェース回路１８３は、テストスロット５００のパワーと温度を制御するように構成され、６個までのテストスロット５００および／またはディスクドライブ６００を制御しても良い。] 図４Ｂ [0065] 各ラック１００は、いくつかの例では、少なくとも一つのテストスロット５００と通信している少なくとも一つの機能テストシステム１９０を含む。機能テストシステム１９０は、クラスターコントローラ１８１と、クラスターコントローラ（例えば、クラスターＰＣ１８１）と電気通信している少なくとも一つの機能インターフェース回路１９１を含む。接続インターフェース回路１８２は、テストスロット５００内のディスクドライブ６００と機能インターフェース回路１９１と電気通信している。機能インターフェース回路１９１は、ディスクドライブ６００に機能テストルーティンを通信するように構成されている。機能テストシステム１９０は、クラスターコントローラ１８１と一つ以上の機能インターフェース回路１９１の間に電気通信を提供する通信スイッチ１９２（例えば、ギガビットイーサネット（登録商標））を含んでいても良い。コンピュータ１３０と、通信スイッチ１９２と、クラスターコントローラ１８１と、機能インターフェース回路１９１はイーサネット（登録商標）ネットワーク上で通信しても良い。しかしながら、他の形態の通信が使われても良い。機能インターフェース回路１９１は、パラレルＡＴアタッチメント（ＩＤＥ，ＡＴＡ，ＡＴＡＰＩ，ＵＤＭＡおよびＰＡＴＡとしても知られるハードディスクインターフェース）、ＳＡＴＡ、またはＳＡＳ（Serial AttachedSCSI）を介して接続インターフェース回路１８２に通信しても良い。] [0066] 図５に示されるように、装填ステーション２００は、装填ステーション本体２１０を含み、それは装填ステーション２１０の反対の側に配置されたトートレセプタクル２１２ａと２１２ｂの第一と第二のセットを規定する。装填ステーション２００はまた、装填ステーションベース２１４と、装填ステーションベース２１４から実質的に垂直に上向きに伸びるスピンドル２１６を含む。第一、第二および第三の本体部分２１８ａ、２１８ｂ、２８１ｃがスピンドル２１６に回転可能にしっかりと留められる。第一、第二および第三の本体部分２１８ａ、２１８ｂ、２８１ｃの各々は他に対して独立に回転可能である。] 図５ [0067] 装填ステーション２００はまた、トートレセプタクル２１２ａ、２１２ｂ内に取り除き可能に搭載されるように構成されたトート２２０を含む。図６に示されるように、トート２２０は、各々がディスクドライブ６００を収容するように構成された複数のディスクドライブレセプタクル２２４（例えば、３０個が示されている）を規定するトート本体２２２を含む。ディスクドライブレセプタクル２２４の各々は、ディスクドライブ６００の非中央部分に沿った扱いを許容するように受け取られたディスクドライブ６００の中央部分をサポートするように構成されたディスクドライブサポート２２６を含む。図５を再度参照すると、トート２２０は第一のトートレセプタクル２１２ａを通して装填され、それからロボット３００によるサービスのために第一、第二および第三の本体部分２１８ａ−ｃを介して第二のトートレセプタクル２１２ｂと揃うように回転されることができる。] 図５ 図６ [0068] 図７に示されるように、ロボット３００は、ロボットアーム３１０と、ロボットアーム３１０の遠位端に配置されたマニピュレータ３１２を含む。ロボットアーム３１０は、床面３１６に実質的に垂直な第一の軸３１４を規定し、第一の軸３１４の周りの所定の弧を通して回転し第一の軸３１４から実質的に放射状に伸びるように動作し得る。ロボットアーム３１０は、装填ステーション２００とテストトラック１００の一つの間でディスクドライブ６００を転送することによって各テストスロット５００を個別にサービスするように構成されている。特に、ロボットアーム３１０は、マニピュレータ３１２でテストスロット５００の一つからディスクドライブ搬送器４００を取り除き、それからディスクドライブ搬送器４００で装填ステーション２００におけるディスクドライブレセプタクル２２４の一つからディスクドライブ６００をピックアップし、それからその中にディスクドライブ６００を持ったディスクドライブ搬送器４００をディスクドライブ６００のテストのためのテストスロット５００に戻すように構成されている。テストの後は、ロボットアーム３１０はテストスロット５００からディスクドライブ６００と共にディスクドライブ搬送器４００を取り出し、それを装填ステーション２００におけるディスクドライブレセプタクル２２４の一つに戻す。] 図７ [0069] ディスクドライブ搬送器 図８に示されるように、ディスクドライブ搬送器４００は、フレーム４１０とクランプ機構４５０を含む。図９に示されるように、クランプ機構は、クランプアッセンブリ４５２のペアを含み、その各々はアクチュエータ４５４とばねクランプのペア（即ち、近位端および遠位端のばねクランプ４５６ａと４５６ｂ）を含む。図１０Ａと１０Ｂに示されるように、ばねクランプ４５６ａと４５６ｂは、ベース部分４５８と、各々がベース部分４５８に接続された近位端４６２とずらし可能な遠位端４６４を有する第一と第二のばねアーム４６０ａと４６０ｂを含む。ばねクランプ４５６ａと４５６ｂは、板金、例えばステンレス鋼、から形成されることができる。それらの近位端と遠位端４６２と４６４の間では、ばねアーム４６０ａと４６０ｂが狭い領域４６６と、広い領域４６８と、それらの間のエッジ４７０のペアを規定する。図１０Ａに示されるように、第一のばねアーム４６０ａは、緩衝器４７４を有する第一の係合部材４７２を含む。緩衝器４７２は、例えば熱可塑材、熱硬化材等から形成されることができる。図１０Ｂに示されるように、第二のばねアーム４６０ｂは、突出部４７８を規定する第二の係合部材４７６を含む。ばねクランプ４５６ａと４５６ｂの各々はまた、ベース部分４５８から外向けに伸びる載置タブ４８０を含む。以下のより詳細に記載されるように、アッセンブリに従って、ばねクランプ４５６ａと４５６ｂがフレーム４１０に載置され、アクチュエータ４５４と動作的に関連付けられる（例えば、フレーム内のハードドライブ６００をクランプするために、および／またはテストスロット５００の一つ内のフレームをクランプするために）。] 図１０Ａ 図１０Ｂ 図８ 図９ [0070] 図１１に示されるように、アクチュエータ４５４の各々は、駆動特徴を規定する内側および外側表面４８１ａと４８１ｂを含む。アクチュエータ４５４はまた、内側および外側表面４８１ａと４８１ｂの間に延びる開口部４８４を規定する。それらの近位端４８５において、アクチュエータ４５４は、フレーム４１０に対するアクチュエータ４５４の動きを制御するためにマニピュレータ３１２と係合可能であるように構成されているアクチュエータソケット４８６を含む。] 図１１ [0071] 図１２Ａと１２Ｂに示されるように、フレーム４１０は面板４１２を含む。第一の表面４１４に沿って、面板４１２はくぼみ４１６を規定する。くぼみ４１６は、ロボットアーム３１０のマニピュレータ３１２によって開放可能に係合されることができ、それはロボットアーム３１０がディスクドライブ搬送器４００を掴んで動かすことを許容する。面板４１２はまた勾配付きエッジ４１７を含む。ディスクドライブ搬送器４００がテストスロット５００の一つ中に挿入された時に、面板４１２の勾配付きエッジ４１７は、テストスロット５００の相補的な勾配付きエッジ５１５に突き当たってシールを形成し、それは以下に記載されるように、テストスロット５００の一つ中へのおよびからの空気の流れを禁じることを助ける。] 図１２Ａ [0072] まだ図１２Ａと１２Ｂを参照すると、フレーム４１０はまた、面板４１２の第二の表面４２０から外向きに伸びる側壁４１８のペアと、側壁４１８の間に伸びてそれらを繋ぐ底板４２２を含む。側壁４１８と底板４２２は一緒に、実質的にＵ字型の開口部を規定し、それは以下により詳細に記載されるように、ディスクドライブ搬送器４００がトート２２０中のディスクドライブサポート２２６からディスクドライブ６００を捕捉して離すことに使われることを許容する。図１２Ｂに示されるように、第二の表面４２０に沿って、面板４１２は突起４２３を規定し、それはディスクドライブコネクター６１０（図１７Ａ）とテストスロットコネクター５２４（図１９Ａおよび１９Ｂ）の間の嵌め合い接続を確かなものとするのを助けるようにディスクドライブ６００に力を加える際に補助することができる。] 図１２Ａ 図１２Ｂ 図１７Ａ 図１９Ａ [0073] 側壁４１８は、その間にディスクドライブ６００（隠れた線で示されている）を受け取るように間を空けられおり、ディスクドライブ６００をサポートするための表面４２４を規定する。側壁４１８はまた、ディスクドライブ６００をテストスロット５００から抽出するために便利であることができる後ろフック４２６を規定する（例えば、ディスクドライブ上のコネクターをテストスロット５００中の嵌め合いコネクターから分離するために）。側壁４１８はまた、フレーム４１０中でディスクドライブ６００を真ん中に置く際に補助することができるリードイン４２８（例えば、面取りエッジ）を規定する。] [0074] 側壁４１８の各々は、側壁４１８の内側および外側表面４３２ａと４３２ｂの間に伸びる通過開口４３０のペアを規定する。アッセンブリに従って、ばねクランプ４５６ａと４５６ｂの対応する一つが通過開口４３０の各々と関連付けられる。側壁４１８はまた、各側壁４１８の近位端４３５から遠位端４３６まで伸びるアクチュエータスロット４３４を規定する。面板４１２は、その第一と第二の表面４１４と４２０の間に伸びる開口４３７のペアを規定し、それはアクチュエータスロット４３４へのアクセスを許容する。側壁４１８はまた、側壁４１８の外側表面４３２ｂからアクチュエータスロット４３４へのアクセスを提供する部分的通過穴４３８を規定する。] [0075] 図１３Ａ−Ｄは、クランプ機構４５０のフレーム４１０とのアッセンブリを描いている。図１３Ａに示されるように、遠位端ばねクランプ４５６ｂが、側壁４１８の遠位端４３６の開口部４３９を通してアクチュエータスロット４３４中に挿入される。挿入中に、遠位端ばねクランプ４５６ｂのずらし可能な遠位端４６４がアクチュエータスロット４３４の内側表面によって圧縮されて、遠位端ばねクランプ４５６ｂの広い領域４６８が対応するアクチュエータスロット４３４内にフィットするようになる。遠位端ばねクランプ４５６ｂはそれから、エッジ４７０が遠位端通過開口４３０に達するまでアクチュエータスロット４３４中に進められ、その地点で遠位端ばねクランプ４５６ｂの遠位端４６４が、通過開口４３０の表面にエッジ４７０が突き当たるそれらの停止位置に向かって外向きに伸びる。この位置において、エッジ４７０は遠位端ばねクランプ４５６ｂの後向きの動き（矢印５０で示されている）を禁じ、遠位端ばねクランプ４５６ｂの前向きの動き（矢印５２で示されている）を禁じるようにタブ４８０が側壁４１８の遠位端４３６に突き当たる。このようにして、遠位端ばねクランプ４５６ｂはアクチュエータスロット４３４内で更なる線形的な動きに対して実質的に固定される。] 図１３Ａ [0076] 次に、図１３Ｂに示されるように、アクチュエータ４５４の第一のものが、面板４１２を通してアクチュエータスロット４３４の第一のものの中に挿入され、アクチュエータ４５４中の開口部４８４が、関連する側壁４１８中の部分的通過穴４３８と揃うまでスロット４３４中に進められる。アクチュエータ４５４がこの位置にあると、図１３Ｃに示されるように、近位端ばねクランプ４５６ａの第一のものは、部分的通過穴４３８を通して開口部４８４中に揃えられることができる。図１３Ｄを参照すると、近位端ばねクランプ４５６ａがそのように揃えられていると、アクチュエータ４５４は近位端ばねクランプ４５６ａを前方に押すように引き込まれることができる（矢印５４で示されているように）。前向きの動き中に、近位端ばねクランプ４５６ａのずらし可能な遠位端４６４は、アクチュエータスロット４３４の内側表面によって圧縮されて、ばねクランプ４５６ａの広い領域４６８が対応するアクチュエータスロット４３４内にフィットするようになる。近位端ばねクランプ４５６ａは、アクチュエータ４５４の動きを介して、エッジ４７０が近位端通過開口４３０に達するまでアクチュエータスロット４３４中に進められ、その地点で近位端ばねクランプ４５６ａの遠位端４６４が、通過開口４３０の表面にエッジ４７０が突き当たるそれらの停止位置に向かって外向きに伸びる。この位置において、エッジ４７０は近位端ばねクランプ４５６ａの後向きの動き（矢印５６で示されている）を禁じ、近位端ばねクランプ４５６ａの前向きの動き（矢印５８で示されている）を禁じるようにタブ４８０が部分的通過穴４３８を形成している表面に突き当たる。このようにして、近位端ばねクランプ４５６ａはアクチュエータスロット４３４内で更なる線形的な動きに対して実質的に固定される。他の側壁４１８上の他の近位端ばねクランプ４５６ａのアッセンブリも同じやり方で行われる。] 図１３Ｂ 図１３Ｃ 図１３Ｄ [0077] 図１４を参照すると、アッセンブリに従って、アクチュエータ４５４は各々独立に対応するアクチュエータスロット４３４内でスライド可能であり、係合および開放位置の間で側壁４１８に対して移動可能である。図１５Ａと１５Ｂに示されるように、係合位置では、アクチュエータ４５４の楔４８２がばねクランプ４５６ａ、４５６ｂと係合して、ばねアーム４６０ａ、４６０ｂの第一および第二の係合部材４７２、４７６が側壁４１８の内側および外側表面４３２ａ、４３２ｂから外向きに伸びることを引き起こす。ばねクランプ４５６ａ、４５６ｂの第一および第二の係合部材４７２、４７６はまた、（矢印６０で示されているように）面板４１２の第一の表面４１４から外向けにアクチュエータ４５４を引っ張ることにより引っ込められることができる。図１６Ａと１６Ｂに示されるように、アクチュエータ４５４が開放位置まで引っ込められた時に、係合部材４７２、４７６は、アクチュエータ４５４の凹み４８３内の停止位置まで引っ込むことを許容される。] 図１４ 図１５Ａ 図１６Ａ [0078] 図１７Ａと１７Ｂに示されるように、アクチュエータ４５４が開放位置にある時、ばねクランプ４５６ａと４５６ｂが引っ込められていて、ディスクドライブ６００（図１７Ｂでは隠れたように示されている）は側壁４１８の間のフレーム４１０中に挿入されることができる。ディスクドライブ６００がフレーム４１０中に挿入されていると、アクチュエータ４５４は係合位置に向けて動かされることができ、図１８に示されるように、フレーム４１０に対する動きに抗してディスクドライブ６００をクランプするように、第一の係合部材４７２をディスクドライブ６００と接触するようずらす。ディスクドライブ６００と係合された時、緩衝器４７４は、ディスクドライブ搬送器４００とディスクドライブ６００の間の振動の転送を禁じることを助けることができる。緩衝器４７４はまた、ばねクランプ４５６ａ、４５６ｂとディスクドライブ６００の間のメタル同士の接触を制限することを助けることができる。] 図１７Ａ 図１７Ｂ 図１８ [0079] テストスロット 図１９Ａに示されるように、テストスロット５００は、ベース５１０と、直立した壁５１２ａ、５１２ｂと、第一と第二のカバー５１４ａ、５１４ｂを含む。テストスロット５００は、後部５１８と前部５１９を含む。後部５１８は接続インターフェースボード５２０を収容し、それは接続インターフェース回路１８２（図４Ａと４Ｂ）を担持している。接続インターフェースボード５２０は、接続インターフェース回路（図４Ａと４Ｂ）と関連するテストラック１００中のテスト回路（例えば、自己テストシステム１８０および／または機能テストシステム１９０）の間の電気通信を提供するリボンケーブル５２２を含む。接続インターフェースボード５２０はまた、接続インターフェース回路１８２とテストスロット５００中のディスクドライブの間の電気通信を提供するテストスロットコネクター５２４を含む。テストスロット５００の前部５１９は、ディスクドライブ搬送器４００の一つを受け取りサポートするためのテスト区画５２６を規定する。ベース５１０と、直立した壁５１２ａ、５１２ｂと、第一のカバー５１４ａは一緒に、テスト区画５２６へのアクセス（例えば、ディスクドライブ搬送器４００を挿入し取り除くための）を提供する第一の開放端５２５と、テストスロット５００中に挿入されたディスクドライブ搬送器４００の面板４１２に突き当たって第一の開放端５２５を介したテストスロット５００へのおよびからの空気の流れを禁じるシールを提供する勾配付きエッジ５１５を規定する。] 図１９Ａ 図４Ａ [0080] 図１９Ｂに示されるように、テスト区画５２６の領域中で、直立した壁５１２ａ、５１２ｂは、ディスクドライブ搬送器４００がテストスロット５００内でクランプされることを許容するディスクドライブ搬送器４００のばねクランプ４５６ａ、４５６ｂのための嵌め合い表面を提供する係合特徴５２７を規定する。例えば、ディスクドライブ６００がディスクドライブ搬送器４００中にありアクチュエータ４５４が開放位置にあると、ディスクドライブ搬送器４００は、図２０Ａに示されるように、ディスクドライブ６００上のコネクター６１０がテストスロットコネクター５２４と嵌め合うまでテストスロット５００中に挿入されることができる。ディスクドライブ搬送器４００がテストスロット５００内の完全に挿入された位置にある（即ち、ディスクドライブコネクター６１０がテストストッロコネクター５２４と嵌め合わされている）と、アクチュエータ４５４は係合位置に向けて動かされることができて、ばねクランプ４５６ａ、４５６ｂの第一および第二の係合部材４７２、４７６を側壁４１８の内側および外側表面４３２ａ、４３２ｂから外向けに伸びるようにずらす。図２０Ｂに隠れた線で示されているように、係合位置では、第二の係合部材４７６が側壁４１８の外側表面４２３ｂから外向けに伸びてテストスロット５００中の係合特徴５２７と係合して、ディスクドライブ搬送器４００をテストスロット５００に対する動きに抗してクランプする。同時に、第一の係合部材４７２が側壁４１８の内側表面４２３ａから外向きに伸びてディスクドライブ６００を係合して、ディスクドライブ６００をディスクドライブ搬送器４００に対する動きに抗してクランプする。ディスクドライブ６００は振動に敏感であり得る。単一のテストラック１００中に多数のディスクドライブ６００をフィットさせてディスクドライブ６００を実行すること（例えば、テスト中に）と、テストラック１００中の様々なテストスロット５００からのディスクドライブ６００の挿入および取り除きは、望ましくない振動のソースになることができる。いくつかの場合には、例えば、ディスクドライブ６００の一つがテストスロット５００の一つ内でのテストの下に動作している一方で、他のものが同じテストラック１００中の隣接するテストスロット５００中で取り除かれて挿入されている。挿入および取り除き中に係合エレメント４７６を引っ込めることと、上述したように、ディスクドライブ搬送器４００がテストスロット５００中に完全に挿入された後にディスクドライブ搬送器４００をテストスロット５００にクランプすることは、ディスクドライブ搬送器４００の挿入と取り除きの間にディスクドライブ搬送器４００とテストスロット５００の間の接触と擦りを制限することによって振動を低減または制限するのを助けることができる。加えて、係合エレメント４７６を引っ込める能力はまた、そうでなければディスクドライブ搬送器４００の挿入と取り除きの間にディスクドライブ搬送器４００とテストスロット５００の間の擦りから結果として生じ得る粒子生成を削減するのを助けることができ、粒状物質はディスクドライブ６００に有害であり得るので、このことは有益であり得る。] 図１９Ｂ 図２０Ａ 図２０Ｂ [0081] 動作の方法 使用においては、ディスクドライブ搬送器４００の一つがロボット３００でテストスロット５００の一つから取り除かれる（例えば、ディスクドライブ搬送器４００のくぼみ４１６をロボット３００のマニピュレータ３１２で掴むことによって）。図２１に描かれているように、側壁４１８と底板４２２によって形成されたＵ字型の開口部は、ディスクドライブ搬送器４００がトート２２０中のディスクドライブ６００の一つの下の位置に動かされることができる（例えば、ロボットアーム３１０を介して）ように、フレーム４１０がトート２２０中のディスクドライブサポート２２６の周りに適合することを許容する。ディスクドライブ搬送器４００はそれから、ディスクドライブ６６００と係合する位置に上げられる（例えば、ロボットアーム３１０によって）ことができる。ディスクドライブ搬送器４００が上げられるにつれて、側壁４１８上のリードイン４２８がフレーム４１０中でディスクドライブ６００を真ん中に置くことを助ける。] 図２１ [0082] ディスクドライブ搬送器４００内にディスクドライブ６００が置かれると、ディスクドライブ搬送器４００は、テストスロット５００の一つ内にフレーム４１０とディスクドライブ６００を設置するようにロボットアーム３１０によって動かされることができる。マニピュレータ３１２は、クランプ機構４５０の駆動を制御するように動作し得る（例えば、アクチュエータ４５４の動きを制御することによって）。これは、移動中にディスクドライブ搬送器４００に対するディスクドライブ６００の動きを禁じるように、ディスクドライブ搬送器４００がトート２２０からテストスロット５００に動かされる前にクランプ機構４５０が駆動されることを許容する。挿入に先立って、マニピュレータ３１２は、テストスロット５００の一つ中へのディスクドライブ搬送器４００の挿入を許容するようにアクチュエータ４５４を開放位置に再び動かすことができる。挿入に先立ってアクチュエータ４５４を開放位置に動かすことはまた、挿入中にディスクドライブ６００がディスクドライブ搬送器４００に対して動くことを許容し、それはディスクドライブコネクター６１０をテストスロットコネクター５２４に揃えるのを補助することができる。ディスクドライブ搬送器４００とディスクドライブ６００は、ディスクドライブコネクター６１０がテストスロットコネクター５２４と係合されてディスクドライブ６００がテスト位置にくるまで、ロボットアーム３１０の動きを介して、テストスロット５００中に進められる。一旦ディスクドライブ６００がテスト位置にくると、アクチュエータ４５４は係合位置に動かされて（例えば、マニピュレータ３１２によって）、ディスクドライブ６００をディスクドライブ搬送器４００に対する動きに抗してクランプするように第一の係合部材４７２がディスクドライブ６００と係合するようになり、テストスロット５００に対するディスクドライブ搬送器４００の動きを禁じるように第二の係合部材４７６がテストスロット５００中の係合特徴５２７と係合するようになる。このやり方でのディスクドライブ搬送器４００のクランピングは、テスト中の振動を低減するのを助けることができる。] [0083] テストに続いて、クランプ機構は、係合部材４７２、４７６をディスクドライブ６００とテストスロット５００から解除するようにアクチュエータ４５４を動かすことによって（例えば、マニピュレータ３１２で）解除されることができる。一旦クランプ機構４５０が解除されると、ディスクドライブ搬送器４００とディスクドライブ６００は、例えば面板４１２中のくぼみ４１６をマニピュレータ３１２と係合し、ロボットアーム３１０でディスクドライブ搬送器４００をテストスロット５００から引っ張り出すことによって、テストスロット５００から引き出されることができる。引き出し中に、側壁４１８の後ろフック４２６がディスクドライブコネクター６１０をテストスロットコネクター５２４から解除するのを助けることができる。] [0084] ディスクドライブ搬送器４００とテストされたディスクドライブ６００はそれから、ロボットアーム３１０で装填ステーション２００に戻されることができる。いくつかの場合には、例えば、一旦ディスクドライブ搬送器４００がテストスロット５００から十分に引き出されると、移動中のディスクドライブ搬送器４００に対するディスクドライブ６００の動きを禁じるようにディスクドライブ搬送器４００がテストスロット５００から装填ステーション２００に動かされる前に、クランプ機構４５０が再び駆動されることができる（例えば、マニピュレータ３１２で）。プロセスは、装填ステーション２００中のディスクドライブの各々について繰り返されることができる。] [0085] 他の実施形態 他の実施形態は、以下の請求項の範囲内である。] [0086] 例えば、上述したテストスロットアッセンブリはディスクドライブ搬送器をクランプするための特定の機構を含んでいるが、テストスロットアッセンブリはまたクランピングのためのその他の機構を含むことができる。例えば、図２２は、ディスクドライブ搬送器４００ａとテストスロット５００ａを含み、テストスロット５００ａがクランピング機能を行う、テストスロットアッセンブリ１２０ａの別の実施形態を描いている。図２３Ａに示されるように、テストスロット５００ａは、ベース５１０ａと、直立した壁５１３ａ、５１３ｂと、第一と第二のカバー５１７ａ、５１７ｂを含む。テストスロット５００ａは、後部５１８ａと前部５１９ａを含む。テストスロット５００ａの前部５１９ａは、ディスクドライブ搬送器４００の一つを受け取りサポートするためのテスト区画５２６ａを規定する。ベース５１０ａと、直立した壁５１３ａ、５１３ｂと、第一のカバー５１７ａは一緒に、テスト区画５２６ａへのアクセス（例えば、ディスクドライブ搬送器４００ａを挿入し取り除くための）を提供する第一の開放端５２５ａを規定する。] 図２２ 図２３Ａ [0087] 図２３Ｂに示されるように、テスト区画５２６ａの領域中で、テストスロット５００ａはまた、クランプばね５３０を含む。図２４に示されるように、クランプばね５３０は、保持タブ５３２と、傾斜面５３３と、緩衝器５３５を含んだ係合部材５３４を含む。図２３Ｂを再度参照すると、直立した壁５１３ａ、５１３ｂは、載置穴５３６を含む。クランプばね５３０の保持タブ５３２は、載置穴５３６内に入り込み直立した壁５１３ａ、５１３ｂの内側表面５３７上の位置にクランプばね５３０を保持する。] 図２３Ｂ 図２４ [0088] 図２５Ａと２５Ｂに示されるように、ディスクドライブ搬送器４００ａは一般にフレーム４１０ａを含む。フレーム４１０ａは面板４１２ａを含む。第一の表面４１４ａに沿って、面板４１２ａはくぼみ４１６ａを規定する。くぼみ４１６ａは、ロボットアーム３１０のマニピュレータ３１２上の嵌め合い突条によって開放可能に係合可能であり、それはロボットアーム３１０がディスクドライブ搬送器４００ａを掴んで動かすことを許容する。面板４１２ａはまた勾配付きエッジ４１７ａを含む。ディスクドライブ搬送器４００ａがテストスロット５００ａの一つ中に挿入された時に、面板４１２ａの勾配付きエッジ４１７ａは、テストスロット５００ａの相補的な勾配付きエッジ５１５ａに突き当たってシールを形成し、テストスロット５００ａの一つ中へのおよびからの空気の流れを禁じることを助ける。] 図２５Ａ [0089] まだ図２５Ａと２５Ｂを参照すると、フレーム４１０ａはまた、面板４１２ａの第二の表面４２０ａから外向きに伸びる側壁４１８ａのペアと、側壁４１８ａの間に伸びてそれらを繋ぐ底板４２２ａを含む。図２５Ｂに示されるように、第二の表面４２０ａに沿って、面板４１２ａは突起４２３ａを規定し、それはディスクドライブ搬送器４００ａがテストスロット５００ａ中に挿入されるにつれてディスクドライブ６００ａに力を加える際に補助することができる。] 図２５Ａ 図２５Ｂ [0090] 図２５Ｃに示されるように、側壁４１８ａは、その間にディスクドライブ６００を受け取るように間を空けられおり、ディスクドライブ６００をサポートするための表面４２４ａを規定する。側壁４１８ａはまた、ディスクドライブ６００をテストスロット５００ａから抽出するために便利であることができる後ろフック４２６ａを規定する。側壁４１８ａはまた、フレーム４１０ａ中でディスクドライブ６００を真ん中に置く際に補助することができるリードイン４２８ａを規定する。] 図２５Ｃ [0091] 図２５Ａと２５Ｂを再度参照すると、側壁４１８ａは、側壁４１８ａの遠位端４３６ａから伸びて通過開口４２１に終端するスロット４１９を規定する。通過開口４２１は、係合部材５３４がそれを通して通過することを許容するようなサイズを持つ。ディスクドライブ搬送器４００ａのテストスロット５００ａ中への挿入中に、側壁４１８ａの外側表面４３３がクランプばね５３０の傾斜面５３３と係合し、クランプばね５３０が圧縮され、係合部材５３４が直立した壁５１３ａ、５１３ｂの内側表面５３７に向かってずらされることを引き起こす。ディスクドライブ搬送器４００ａがテストスロット５００ａ中に進められるにつれて、緩衝器５３５が側壁４１８ａ中のスロット４１９内でスライドする。図２６Ａと２６Ｂに示されるように、ディスクドライブ搬送器４００ａが完全に挿入された位置に達した時に、係合部材５３４が側壁４１８ａ中の通過開口４２１を通して伸びて、緩衝器５３５がディスクドライブ搬送器４００ａによって搬送されているディスクドライブ６００（図２６Ｂ）と係合することができるようになる。] 図２５Ａ 図２６Ａ 図２６Ｂ [0092] 図２７Ａと２７Ｂは、クランプ機構を有するディスクドライブ搬送器４００ｂの別の実施形態を描いている。ディスクドライブ搬送器４００ｂは、面板４１２ｂと側壁４２５ａ、４２５ｂのペアを有するフレーム４１０ｂを含む。側壁４２５ａの第一のものは、第一の側壁４２５ａの内側および外側表面４３１ａ、４３１ｂの間に伸びる通過開口４２７を規定する。係合エレメント（例えば、ばねクランプ７００）は、通過開口４２７内に配置される。] 図２７Ａ [0093] 図２８に示されるように、ばねクランプ７００は、ベース部分７１６と、各々がベース部分７１６に接続された近位端７１９とずらし可能な遠位端７２０を有する第一と第二のばねアーム７１８ａ、７１８ｂを含む。第一のばねアーム７１８ａは、第一の緩衝器７２２ａを有する第一の係合部材７２１ａを含み、第二のばねアーム７１８ｂは、第二の緩衝器７２２ｂを有する第二の係合部材７２１ｂを含む。アクチュエータ７１０は、ばねクランプ７００と動作的に関連付けられている。アクチュエータ７１０は、面板４１２ｂを通して、第一の側壁４２５ａ中のアクチュエータスロット７１２の中まで通過する。図２９に示されるように、アクチュエータ７１０は、第一の軸７１７に沿って近位端７１３から遠位端７１５まで伸びている細長い本体７１１を有する。その長さに沿って、アクチュエータ７１０は、広い寸法Ｄ１と狭い寸法Ｄ２を含んだ断面を有する。] 図２８ 図２９ [0094] アクチュエータ７１０は、ばねクランプ７００の動きを始動するように、係合および開放位置の間でアクチュエータスロット７１２内で第一の軸７１７の周りを回転可能である。図３０Ａに示されるように、係合位置において、アクチュエータ７１０のカム表面７１４がばねクランプ７００と係合して、ばねアームのずらし可能な遠位端７２０が第一の側壁４２５ａ（隠れたように示されている）の内側および外側表面４３１ａ、４３１ｂから外向きに伸びることを引き起こす。ばねアームのずらし可能な遠位端７２０はまた、図３０Ｂに示されるように、アクチュエータ７１０を開放位置に回転することによって引き込まれることができる。アクチュエータ７１０が開放位置に回転された時に、ばねアームのずらし可能な遠位端７２０は引っ込むことを許容される。] 図３０Ａ 図３０Ｂ [0095] ばねクランプ７００が引っ込められてアクチュエータ７１０が開放位置にいる時、ディスクドライブ６００は、図３１に示されるように、側壁４２５ａ、４２５ｂの間でフレーム４１０ｂ中に挿入されることができる。一旦ディスクドライブ６００がフレーム４１０ｂ中に挿入されると、アクチュエータ７１０は、フレーム４１０ｂに対する動きに抗してディスクドライブ６００をクランプするように第一の係合部材をディスクドライブ６００と接触するようずらすように係合位置に向けて回転されることができる。同様のやり方で、ディスクドライブ搬送器４００ｂもまたテストスロット内でクランプされることができる。例えば、ディスクドライブ６００がフレーム４１０ｂ中にありアクチュエータ７１０が開放位置にあると、図３２に示されるように（明確さのためにカバーが取り除かれてテストスロットが示されている）、ディスクドライブ搬送器４００ｂはテストスロット５００ｂ中に挿入されることができる。ディスクドライブ搬送器４００ｂがテストスロット５００ｂ内の完全に挿入された位置にある（即ち、ディスクドライブコネクターがテストスロットコネクターと嵌め合わされている）と、アクチュエータ７１０は、第一の側壁４２５ａの内側および外側表面から外向きに伸びるよう第一と第二の係合部材７２１ａ、７２１ｂをずらすように係合位置に向けて回転されることができる。この位置において、ばねクランプ７００の第二の係合部材７２１ｂは、第一の側壁４２５ａの外側表面４３１ｂから外向けに伸びてテストスロット５００ｂの壁７２３と係合し、それによりディスクドライブ搬送器４００ｂをテストスロット５００ｂに対する動きに抗してクランプする。同時に、ばねクランプ７００の第一の係合部材７２１ａは、ディスクドライブ６００をディスクドライブ搬送器４００ｂに対する動きに抗してクランプするように、第一の側壁４２５ａの内側表面４３１ａから外向きに伸びてディスクドライブ６００と係合する。] 図３１ 図３２ [0096] 図３３Ａと３３Ｂは、クランプ機構（例えば、ディスクドライブ搬送器内のディスクドライブをクランプするためおよび／またはテストスロット内のディスクドライブ搬送器をクランプするための）を有するディスクドライブ搬送器４００ｃの更に別の実施形態を描いている。図３３Ａと３３Ｂに示されるように、ディスクドライブ搬送器４００ｃは、面板４１２ｃと側壁４２９ａ、４２９ｂのペアを有するフレーム４１０ｃを含む。側壁４２９ａの第一のものは、第一の側壁４２９ａの内側および外側表面４４１ａ、４４１ｂの間に伸びる通過開口４４０を規定する。係合エレメント（例えば、ばねクランプ７５０）は、通過開口４４０内に配置される。] 図３３Ａ [0097] 図３４に示されるように、ばねクランプ７５０は、ベース部分７５２と、各々がベース部分７５２に接続された近位端７５４とずらし可能な遠位端７５５を有する第一と第二のばねアーム７５３ａ、７５３ｂを含む。第一のばねアーム７５３ａは、第一の緩衝器７５８ａを有する第一の係合部材７５６ａを含み、第二のばねアーム７５３ｂは、第二の緩衝器７５８ｂを有する第二の係合部材７５６ｂを含む。] 図３４ [0098] アクチュエータ７６０は、ばねクランプ７５０と動作的に関連付けられている。アクチュエータ７６０は、面板４１２ｃを通して、第一の側壁４２９ａ中のアクチュエータスロット７６２の中まで通過する。図３５に示されるように、その長さに沿って、アクチュエータ７６０は、楔７６４を規定する断面を有する。] 図３５ [0099] アクチュエータ７６０は、係合位置と開放位置の間でアクチュエータスロット７６２内で旋回可能である。図３６Ａと３６Ｂに描かれているように、係合位置において、アクチュエータ７６０の楔７６４がばねクランプ７５０と係合して、ばねアーム７５３ａ、７５３ｂの遠位端７５５が第一の側壁４２９ａの内側および外側表面４４１ａ、４４１ｂから外向きに伸びることを引き起こす。よって、ばねクランプ７５０は、アクチュエータ７６０の遠位端をばねクランプ７５０に向けて強制するように上向きに（矢印６２）アクチュエータ７６０の近位端を押すおよび／または引くことによって、駆動されることができる。] 図３６Ａ [0100] ばねアーム７５３ａ、７５３ｂの遠位端７５５はまた、図３７Ａと３７Ｂに示されるように、アクチュエータ７６０を開放位置に旋回することによって引き込まれることができる。アクチュエータ７６０が開放位置に回転された時に、遠位端７５５は引っ込むことを許容される。] 図３７Ａ [0101] ばねクランプ７５０が引っ込められてアクチュエータ７６０が開放位置にいる時、ディスクドライブ６００は、図３８に示されるように、側壁４２９ａ、４２９ｂの間でフレーム４１０ｃ中に挿入されることができる。一旦ディスクドライブ６００がフレーム４１０ｃ中に挿入されると、アクチュエータ７６０は、フレーム４１０ｃに対する動きに抗してディスクドライブ６００をクランプするように第一の係合部材７５６ａをディスクドライブ６００と接触するようずらすように係合位置に向けて動かされることができる。同様のやり方で、ディスクドライブ搬送器４００ｃもまたテストスロット内でクランプされることができる。例えば、ディスクドライブ６００がフレーム４１０ｃ中にありアクチュエータ７６０が開放位置にあると、ディスクドライブ搬送器４００ｃはテストスロット中に挿入されることができる。ディスクドライブ搬送器４００ｃがテストスロット内の完全に挿入された位置にあると、アクチュエータ７６０は、第一の側壁４２９ａの内側および外側表面４４１ａ、４４１ｂから外向きに伸びるようばねアーム７５３ａ、７５３ｂの遠位端７５５をずらすように係合位置に向けて旋回されることができる。この位置において、ばねクランプ７５０の第二の係合部材７５６ｂは、第一の側壁４２９ａの外側表面４４１ｂから外向けに伸びてテストスロットと係合し、それによりディスクドライブ搬送器４００ｃをテストスロットに対する動きに抗してクランプする。同時に、ばねクランプ７５０の第一の係合部材７５６ａは、ディスクドライブ６００をディスクドライブ搬送器４００ｃに対する動きに抗してクランプするように、第一の側壁４２９ａの内側表面４４１ａから外向きに伸びてディスクドライブ６００と係合する。] 図３８ [0102] 異なる実施形態の要素は、ここで特に記載されなかった組み合わせを形成するように組み合わされても良い。ここに記載されたものと組み合わせ可能なその他の詳細および特徴は、同時に出願された以下の米国特許出願中に見つけることができる：“DISKDRIVE TESTING”と題され、代理人ドケット番号が18523-062001で、発明者がEdward Garcia et al.で、付与されたシリアル番号が11/958,788であるものと、“DISK DRIVE TESTING”と題され、代理人ドケット番号が18523-064001で、発明者がEdward Garcia et al.で、付与されたシリアル番号が11/958,817であるもの：前述した出願の内容はその全体がここに引用によって組み込まれる。] [0103] 請求項は個々に記載された実施形態に限定はされない。]
权利要求:
請求項1 ディスクドライブ（６００）を搬送し、ディスクドライブをテストスロット（５００、５００ｂ）内に載置するディスクドライブ搬送器（４００、４００ｂ、４００ｃ）であって、ディスクドライブを受け取りサポートするように構成されたフレーム（４１０、４１０ｂ、４１０ｃ）であって、その間にディスクドライブを受け取るように構成され、ディスクドライブと共にテストスロット中に挿入されるようなサイズを持つ側壁（４１８、４２５ａ、４２５ｂ、４２９ａ、４２９ｂ）、を含むフレームと、側壁の少なくとも一つと動作的に関連付けられているクランプ機構（４５０）であって、第一の係合エレメント（４７６、７００、７５０）と、第一の係合エレメントの動きを始動するように動作し得る第一のアクチュエータ（４５４、７１０、７６０）であって、第一のアクチュエータは、フレームによってサポートされているディスクドライブがテストスロット中のテスト位置に配置された後に、第一の係合エレメントをテストスロットと係合するよう動かすように動作し得るものと、を含むクランプ機構と、を含むディスクドライブ搬送器。 請求項2 第一のアクチュエータは、第一の係合エレメントをフレームによってサポートされているディスクドライブと係合するよう動かすように動作し得るものである、請求項１のディスクドライブ搬送器。 請求項3 第一の係合エレメントは、第一と第二の係合部材（４７２、４７６、７２１ａ、７２１ｂ、７５６ａ、７５６ｂ）を含み、第一のアクチュエータは、第一と第二の係合部材の動きを始動するように動作し得るものである、請求項１または請求項２のディスクドライブ搬送器。 請求項4 第一のアクチュエータは、フレームによってサポートされているディスクドライブがテストスロット中のテスト位置に配置された後に、第一の係合部材をテストスロットと係合するよう動かすように動作し得るものであり、第一のアクチュエータは、第二の係合部材をフレームによってサポートされているディスクドライブと係合するよう動かすように動作し得るものである、請求項３のディスクドライブ搬送器。 請求項5 第二の係合部材は、緩衝器（４７４、７２２ａ、７２２ｂ、７５６ａ、７５６ｂ）を含む、請求項３または請求項４のディスクドライブ搬送器。 請求項6 緩衝器は、熱可塑性材と熱硬化性材からなるグループから選択された緩衝材料を含む、請求項５のディスクドライブ搬送器。 請求項7 緩衝器は、隔離または緩衝材料を含む、請求項５のディスクドライブ搬送器。 請求項8 第一のアクチュエータは、第一と第二の係合部材をお互いに対して実質的に反対方向に動かすように動作し得るものである、請求項３〜７のいずれかのディスクドライブ搬送器。 請求項9 第一のアクチュエータは、第一と第二の係合部材を実質的に同時に動かすように動作し得るものである、請求項８のディスクドライブ搬送器。 請求項10 第一の係合エレメント（４７６）は、テストスロット中の嵌め合い特徴と係合するように構成された突出部（４７８）を含む、請求項１〜９のいずれかのディスクドライブ搬送器。 請求項11 第一の係合エレメントは、緩衝器（４７４、７２２ａ、７２２ｂ、７５６ａ、７５６ｂ）を含む、請求項１〜４または８〜１０のいずれかのディスクドライブ搬送器。 請求項12 緩衝器は、熱可塑性材と熱硬化性材からなるグループから選択された緩衝材料を含む、請求項１１のディスクドライブ搬送器。 請求項13 第一の係合エレメントはばねクランプを含み、ばねクランプは、ベース部分（４５８、７１６、７５２）と、各々がベース部分と接続された近位端（４６２、７１９、７５４）とずらし可能な遠位端（４６４、７２０、７５５）を含んだ第一と第二のばねアーム（４６０ａ、４６０ｂ、７１８ａ、７１８ｂ、７５３ａ、７５３ｂ）とを含む、請求項１〜１２のいずれかのディスクドライブ搬送器。 請求項14 アクチュエータは、第一と第二のばねアームの遠位端の動きを始動するように動作し得るものである、請求項１３のディスクドライブ搬送器。 請求項15 第一のアクチュエータ（７６０）は、第一の係合エレメントの動きを始動するようにフレームに対して旋回可能である、請求項１〜９、１１、１３または１４のいずれか一つのディスクドライブ搬送器。 請求項16 第一のアクチュエータ（７１０）は、第一の軸（７１７）に沿って近位端（７１３）から遠位端（７１５）まで伸びている細長い本体（７１１）を含み、第一のアクチュエータは、第一の係合エレメントの動きを始動するように第一の軸の周りを回転可能である、請求項１〜９、１１、１３または１４のいずれか一つのディスクドライブ搬送器。 請求項17 第一のアクチュエータ（４５４）は、第一の係合エレメントの動きを始動するようにフレームに対して線形的にずらし可能である、請求項１〜１０、１３または１４のいずれか一つのディスクドライブ搬送器。 請求項18 側壁の第一のものは第一のアクチュエータスロット（４３４、７１２、７６２）を規定し、第一のアクチュエータは、第一のアクチュエータスロット内に少なくとも部分的に配置されている、請求項１〜１７のいずれかのディスクドライブ搬送器。 請求項19 第一のアクチュエータは、第一の係合エレメントの動きを始動するように第一のアクチュエータスロット内で移動可能である、請求項１８のディスクドライブ搬送器。 請求項20 クランプ機構は第二の係合エレメント（４７６）を更に含み、第一のアクチュエータは、第二の係合エレメントの動きを始動するように動作し得るものである、請求項１〜１０、１３、１４または１７〜１９のいずれかのディスクドライブ搬送器。 請求項21 第一のアクチュエータは、フレームによってサポートされているディスクドライブがテストスロット中のテスト位置に配置された後に、第二の係合エレメントをテストスロットと係合するよう動かすように動作し得るものである、請求項２０のディスクドライブ搬送器。 請求項22 第一のアクチュエータは、第二の係合エレメントをフレームによってサポートされているディスクドライブと係合するよう動かすように動作し得るものである、請求項２０または請求項２１のディスクドライブ搬送器。 請求項23 クランプ機構は、第二の係合エレメント（４７６）と、第二の係合エレメントの動きを始動するように動作し得る第二のアクチュエータ（４５４）とを更に含む、請求項１〜１０、１３、１４または１７〜１９のいずれか一つのディスクドライブ搬送器。 請求項24 第二のアクチュエータは、第二の係合エレメントの動きを始動するように第一のアクチュエータとは独立に動作し得るものである、請求項２３のディスクドライブ搬送器。 請求項25 第二のアクチュエータは、フレームによってサポートされているディスクドライブがテストスロット中のテスト位置に配置された後に、第二の係合エレメントをテストスロットと係合するよう動かすように動作し得るものである、請求項２３または請求項２４のディスクドライブ搬送器。 請求項26 第二のアクチュエータは、第二の係合エレメントをフレームによってサポートされているディスクドライブと係合するよう動かすように動作し得るものである、請求項２３〜２５のいずれか一つのディスクドライブ搬送器。 請求項27 第一のアクチュエータ（４５４）は、第一の係合エレメント（４７６）の動きを始動するための駆動特徴（４８２、４８３）を規定する、請求項１〜１０、１３、１４または１７〜２６のいずれか一つのディスクドライブ搬送器。 請求項28 駆動特徴は、楔（４８２）と凹み（４８３）を含む、請求項２７のディスクドライブ搬送器。 請求項29 フレームは側壁に接続された底板（４２２）を含み、側壁と底板は一緒に、サポートからディスクドライブを捕捉して離すための実質的にＵ字型の開口部を規定する、請求項１〜２８のいずれか一つのディスクドライブ搬送器。 請求項30 ハウジングであって、テストのためのディスクドライブ（６００）を搬送しているディスクドライブ搬送器（４００ａ）を受け取りサポートするためのテスト区画（５２６ａ）と、テストのためのディスクドライブを搬送しているディスクドライブ搬送器の挿入と取り除きのためにテスト区画へのアクセスを提供する開放端（５２５ａ）と、を規定するハウジングと、ハウジングに載置された第一の係合エレメント（５３０）であって、第一の係合エレメントは、ディスクドライブ搬送器がテスト区画中に挿入された時にディスクドライブ搬送器によって搬送されているディスクドライブと係合するように構成されているものと、を含むディスクドライブテストスロット（５００ａ）。 請求項31 第一の係合エレメントはクランプばね（５３０）を含む、請求項３０のディスクドライブテストスロット。 請求項32 第一の係合エレメントは緩衝器（５３５）を含む、請求項３０または請求項３１のディスクドライブテストスロット。 請求項33 緩衝器は、ディスクドライブ搬送器がテスト区画中に挿入された時にディスクドライブ搬送器によって搬送されているディスクドライブと係合するように構成されている、請求項３２のディスクドライブテストスロット。 請求項34 緩衝器は、熱可塑性材と熱硬化性材からなるグループから選択された緩衝材料を含む、請求項３２または請求項３３のディスクドライブテストスロット。 請求項35 自動化されたマシーン（３００）と、ディスクドライブ搬送器（４００、４００ａ、４００ｂ、４００ｃ）であって、ディスクドライブ（６００）を受け取りサポートするように構成されたフレーム（４１０、４１０ａ、４１０ｂ、４１０ｃ）であり、自動化されたマシーンは、ディスクドライブ搬送器の動きを制御するようフレームと開放可能に係合するように構成されているもの、を含むディスクドライブ搬送器と、テストされるべきディスクドライブを格納する装填ステーション（２００）と、ディスクドライブを搬送しているディスクドライブ搬送器を受け取りサポートするように構成されたテストスロット（５００、５００ａ、５００ｂ）であって、自動化されたマシーンは、ディスクドライブ搬送器を利用して装填ステーションからディスクドライブを取り除き、その中にディスクドライブを有するディスクドライブ搬送器をテストスロット中に挿入するように動作し得るものと、を含むディスクドライブテストシステム（１０）。 請求項36 自動化されたマシーンはロボット（３００）を含み、ロボットは、移動可能なアーム（３１０）と、移動可能なアームに接続されたマニピュレータ（３１２）であって、マニピュレータは、ディスクドライブ搬送器の動きを制御するようフレームと開放可能に係合するように構成されているものとを含む、請求項３５のディスクドライブテストシステム。 請求項37 ロボットは、ディスクドライブ搬送器を利用して装填ステーションからディスクドライブを取り除き、その中にディスクドライブを有するディスクドライブ搬送器をテストスロット中に挿入するように動作し得るものである、請求項３６のディスクドライブテストシステム。 請求項38 フレームは、自動化されたマシーンによって開放可能に係合可能であるように構成されたくぼみを規定する面板（４１２、４１２ａ、４１２ｂ、４１２ｃ）を含む、請求項３５〜３７のいずれか一つのディスクドライブテストシステム。 請求項39 フレームは、第一の係合エレメント（４７６、７００、７５０）と、第一の係合エレメントの動きを始動するように動作し得る第一のアクチュエータ（４５４、７１０、７６０）であって、第一のアクチュエータは、フレームによってサポートされているディスクドライブがテストスロット中のテスト位置に配置された後に、第一の係合エレメントをテストスロット（５００、５００ｂ）と係合するよう動かすように動作し得るものと、を含んだクランプ機構を含む、請求項３５〜３８のいずれか一つのディスクドライブテストシステム。 請求項40 自動化されたマシーンは、クランプ機構の動作を制御するように構成されている、請求項３９のディスクドライブテストシステム。 請求項41 フレームは、その間にディスクドライブを受け取るように構成され、ディスクドライブのテストのためにディスクドライブと共にテストスロット中に挿入されるようなサイズを持つ側壁（４１８、４２５ａ、４２５ｂ、４２９ａ、４２９ｂ）を含み、クランプ機構は、側壁の少なくとも一つと動作的に関連付けられている、請求項３９または請求項４０のディスクドライブテストシステム。 請求項42 ディスクドライブ（６００）を搬送し、ディスクドライブをテストスロット（５００、５００ａ、５００ｂ）内に載置するディスクドライブ搬送器（４００、４００ａ、４００ｂ、４００ｃ）であって、その間にディスクドライブを受け取るように構成され、ディスクドライブと共にテストスロット中に挿入されるようなサイズを持つ側壁（４１８、４１８ａ、４２５ａ、４２５ｂ、４２９ａ、４２９ｂ）と、側壁に接続された底板（４２２、４２２ａ）であって、側壁と底板は一緒に、サポートからディスクドライブを捕捉して離すための実質的にＵ字型の開口部を規定するものと、を含んだフレーム（４１０、４１０ａ、４１０ｂ、４１０ｃ）、を含むディスクドライブ搬送器。 請求項43 ディスクドライブ（６００）をテストする方法であって、ディスクドライブ搬送器（４００、４００ａ、４００ｂ、４００ｃ）と係合するように自動化されたマシーン（３００）を駆動することと、ディスクドライブ搬送器でディスクドライブを捕捉することと、それから、ディスクドライブ搬送器と捕捉されたディスクドライブをテストスロット（５００、５００ａ、５００ｂ）中に挿入するように自動化されたマシーンを駆動することであって、ディスクドライブを捕捉することは、自動化されたマシーンを使ってディスクドライブ搬送器をディスクドライブと係合するよう動かすことを含むことと、を含む方法。 請求項44 自動化されたマシーンを駆動することは、ロボットアーム（３１０）を駆動することを含む、請求項４３の方法。 請求項45 ディスクドライブ搬送器（４００、４００ｂ、４００ｃ）は、ディスクドライブ搬送器をテストスロット（５００、５００ｂ）にクランプするように動作し得るクランプ機構（４５０）を含み、クランプ機構を動作させるように自動化されたマシーンを駆動し、それによりディスクドライブ搬送器と捕捉されたディスクドライブがテストスロット中に挿入された後にディスクドライブ搬送器をテストスロットにクランプすることを更に含む、請求項４３または請求項４４の方法。 請求項46 ディスクドライブを捕捉することは、ディスクドライブ搬送器をディスクドライブの下の位置に動かすように自動化されたマシーンを駆動することと、ディスクドライブ搬送器をディスクドライブと係合する位置に上げるように自動化されたマシーンを駆動することとを含む、請求項４３〜４５のいずれか一つの方法。 請求項47 ディスクドライブ（６００）をテストする方法であって、ディスクドライブを搬送しているディスクドライブ搬送器（４００、４００ｂ、４００ｃ）をテストスロット（５００、５００ｂ）中に挿入するように自動化されたマシーン（３００）を駆動することと、クランプ機構（４５０）を動作させるように自動化されたマシーンを駆動し、それによりディスクドライブ搬送器と捕捉されたディスクドライブがテストスロット中に挿入された後にディスクドライブ搬送器をテストスロットにクランプすることと、を含む方法。 請求項48 自動化されたマシーンを駆動することは、ロボットアーム（３１０）を駆動することを含む、請求項４７の方法。 請求項49 クランプアッセンブリと係合するように自動化されたマシーンを駆動し、それによりディスクドライブ搬送器を捕捉されたディスクドライブにクランプすることを更に含む、請求項４７または請求項４８の方法。 請求項50 Ａ）テストスロット（５００、５００ｂ）であって、ｉ）ハウジングであり、ａ）テスト区画（５２６）と、ｂ）テスト区画へのアクセスを提供する開放端（５２５）と、を規定するハウジングを含むテストスロットと、Ｂ）ディスクドライブ搬送器（４００、４００ｂ、４００ｃ）であって、ｉ）ディスクドライブ（６００）を受け取りサポートするように構成されたフレーム（４１０、４１０ｂ、４１０ｃ）であり、ａ）その間にディスクドライブを受け取るように構成され、ディスクドライブと共にテスト区画中に挿入されるようなサイズを持つ側壁（４１８、４２５ａ、４２５ｂ、４２９ａ、４２９ｂ）、を含むフレームと、ｉｉ）側壁の少なくとも一つと動作的に関連付けられているクランプ機構（４５０）であり、ａ）第一の係合エレメント（４７６、７００、７５０）と、ｂ）第一の係合エレメントの動きを始動するように動作し得る第一のアクチュエータ（４５４、７１０、７６０）であって、第一のアクチュエータは、フレームによってサポートされているディスクドライブがテスト区画中のテスト位置に配置された後に、第一の係合エレメントをハウジングと係合するよう動かすように動作し得るものと、を含むクランプ機構とを含むディスクドライブ搬送器と、を含むテストスロットアッセンブリ（１２０）。 請求項51 第一の係合エレメントは、第一と第二の係合部材（４７２、４７６、７２１ａ、７２１ｂ、７５６ａ、７５６ｂ）を含み、第一のアクチュエータは、第一と第二の係合部材の動きを始動するように動作し得るものである、請求項５０のテストスロットアッセンブリ。 請求項52 第一のアクチュエータは、フレームによってサポートされているディスクドライブがテスト区画中のテスト位置に配置された後に、第一の係合部材をテストスロットと係合するよう動かすように動作し得るものであり、第一のアクチュエータは、第二の係合部材をフレームによってサポートされているディスクドライブと係合するよう動かすように動作し得るものである、請求項５１のテストスロットアッセンブリ。 請求項53 第二の係合部材は、緩衝器（４７４、７２２ａ、７２２ｂ、７５６ａ、７５６ｂ）を含む、請求項５１または請求項５２のテストスロットアッセンブリ。 請求項54 第一のアクチュエータは、第一と第二の係合部材をお互いに対して実質的に反対方向に動かすように動作し得るものである、請求項５１〜５３のいずれか一つのテストスロットアッセンブリ。 請求項55 第一のアクチュエータは、第一と第二の係合部材を実質的に同時に動かすように動作し得るものである、請求項５１〜５４のいずれか一つのテストスロットアッセンブリ。 請求項56 ハウジングは、その間にフレーム（４１０）の側壁（４１８）を受け取るように構成された直立した壁（５１２ａ、５１２ｂ）を含み、直立した壁の第一のものは係合特徴（５２７）を含み、第一の係合エレメント（４７６）は係合特徴と係合するように構成された突出部（４７８）を含む、請求項５０〜５５のいずれか一つのテストスロットアッセンブリ。 請求項57 第一のアクチュエータ（４５４）は、側壁がテスト区画に挿入された後に、突出部を係合特徴と係合するよう動かすように動作し得るものである、請求項５６のテストスロットアッセンブリ。 請求項58 Ａ）ディスクドライブ搬送器（４００ａ）であって、ｉ）ディスクドライブ（６００）を受け取りサポートするように構成されたフレーム（４１０ａ）であり、ａ）その間にディスクドライブを受け取るように構成された側壁（４１８ａ）であって、側壁の第一のものは通過開口（４２１）を規定するものを含むフレーム、を含むディスクドライブ搬送器と、Ｂ）ハウジングであって、ｉ）ディスクドライブ搬送器を受け取りサポートするためのテスト区画（５２６ａ）と、ｉｉ）ディスクドライブ搬送器の挿入と取り除きのためにテスト区画へのアクセスを提供する開放端（５２５ａ）と、ｉｉｉ）ハウジングに載置された第一の係合エレメント（５３０）であって、第一の係合エレメントは、ディスクドライブ搬送器がテスト区画中に挿入された時にディスクドライブ搬送器によって搬送されているディスクドライブと係合するよう通過開口を通して伸びるように構成されているものと、を含むハウジングと、を含むテストスロットアッセンブリ（１２０ａ）。 請求項59 自動化されたマシーン（３００）と、ディスクドライブ搬送器（４００、４００ｂ、４００ｃ）であって、ディスクドライブを受け取りサポートするように構成されたフレーム（４１０、４１０ｂ、４１０ｃ）と、クランプ機構（４５０）であり、第一の係合エレメント（４７６、７００、７５０）と、第一の係合エレメントの動きを始動するように動作し得る第一のアクチュエータ（４５４、７１０、７６０）であって、自動化されたマシーンは、クランプ機構の動作を制御するように構成されているものを含むクランプ機構と、を含むディスクドライブ搬送器と、を含むディスクドライブテストシステム（１０）。 請求項60 自動化されたマシーンは、ディスクドライブ搬送器の動きを制御するようフレームと開放可能に係合するように構成されている、請求項５９のディスクドライブテストシステム。 請求項61 自動化されたマシーンはロボット（３００）を含み、ロボットは、移動可能なアーム（３１０）と、移動可能なアームに接続されたマニピュレータ（３１２）であって、マニピュレータは、ディスクドライブ搬送器の動きを制御するようフレームと開放可能に係合するように構成されているものとを含む、請求項５９または請求項６０のディスクドライブテストシステム。 請求項62 マニピュレータは、クランプ機構の動作を制御するように動作し得るものである、請求項６１のディスクドライブテストシステム。 請求項63 フレーム（４１０、４１０ｂ、４１０ｃ）は、自動化されたマシーンによって開放可能に係合可能であるように構成されたくぼみ（４１６）を規定する面板（４１２、４１２ｂ、４１２ｃ）を含む、請求項５９〜６２のいずれか一つのディスクドライブテストシステム。 請求項64 テストのためのディスクドライブ（６００）を搬送する方法であって、自動化されたマシーン（３００）を駆動し、それにより第一のディスクドライブを搬送しているディスクドライブ搬送器（４００、４００ｂ、４００ｃ）を第一のテストスロット（５００、５００ｂ）と装填ステーション（２００）の間で動かすことと、第一のテストスロットと装填ステーションの間の動き中にディスクドライブ搬送器が第一のディスクドライブにクランプされるように、クランプ機構（４５０）を動作させるように自動化されたマシーンを駆動することと、を含む方法。 請求項65 ディスクドライブ搬送器を第一のテストスロットと装填ステーションの間で動かすことは、第一のディスクドライブを搬送しているディスクドライブ搬送器を装填ステーションから第一のテストスロットへ動かすことを含む、請求項６４の方法。 請求項66 ディスクドライブ搬送器を第一のテストスロットと装填ステーションの間で動かすことは、第一のディスクドライブを搬送しているディスクドライブ搬送器を第一のテストスロットから装填ステーションへ動かすことを含む、請求項６４または請求項６５の方法。 請求項67 クランプ機構を動作させるように自動化されたマシーンを駆動することは、ディスクドライブ搬送器を第一のテストスロットと装填ステーションの間で動かすことに先立って、ディスクドライブ搬送器を第一のディスクドライブにクランプすることを含む、請求項６４〜６６のいずれか一つの方法。 請求項68 クランプ機構を動作させるように自動化されたマシーンを駆動することは、ディスクドライブ搬送器が第一のテストスロットと装填ステーションの間で動かされるにつれて、ディスクドライブ搬送器を第一のディスクドライブにクランプすることを含む、請求項６４〜６６のいずれか一つの方法。 請求項69 クランプ機構を動作させるように自動化されたマシーンを駆動し、それにより第一のディスクドライブからディスクドライブ搬送器をクランプ解除することと、それから、ディスクドライブ搬送器と第一のディスクドライブを第一のテストスロット中に挿入するように自動化されたマシーンを駆動することと、を更に含む請求項６４〜６８のいずれか一つの方法。 請求項70 クランプ機構を動作させるように自動化されたマシーンを駆動し、それによりディスクドライブ搬送器と第一のディスクドライブが第一のテストスロット中に挿入された後にディスクドライブ搬送器を第一のテストスロットにクランプすること、を更に含む請求項６９の方法。 請求項71 クランプ機構を動作させるように自動化されたマシーンを駆動し、それにより第一のテストスロットからディスクドライブ搬送器をクランプ解除することと、それから、ディスクドライブ搬送器を第一のテストスロットから取り除くように自動化されたマシーンを駆動することと、を更に含む請求項６４〜７０のいずれか一つの方法。 請求項72 クランプ機構を動作させるように自動化されたマシーンを駆動し、それによりディスクドライブ搬送器を第一のテストスロットから取り除くことに先立って第一のディスクドライブからディスクドライブ搬送器をクランプ解除すること、を更に含む請求項７１の方法。 請求項73 クランプ機構を動作させるように自動化されたマシーンを駆動し、それにより第二のテストスロット（５００、５００ｂ）からディスクドライブ搬送器をクランプ解除することと、それから、自動化されたマシーンを駆動し、それによりディスクドライブ搬送器を第二のテストスロットから取り除くことと、を更に含む請求項６４〜７２のいずれか一つの方法。 請求項74 ディスクドライブ搬送器を第二のテストスロットから取り除いた後に、ディスクドライブ搬送器で第一のディスクドライブを装填ステーションから捕捉することを更に含み、第一のディスクドライブを捕捉することは、自動化されたマシーンを使ってディスクドライブ搬送器を第一のディスクドライブと係合するよう動かすことを含む、請求項７３の方法。 請求項75 クランプ機構を動作させるように自動化されたマシーンを駆動し、それにより第二のディスクドライブ（６００）からディスクドライブ搬送器をクランプ解除することを更に含み、ディスクドライブ搬送器を第二のテストスロットから取り除くことは、第二のディスクドライブを搬送しているディスクドライブ搬送器を第二のテストスロットから取り除くことを含む、請求項７３または請求項７４の方法。 請求項76 自動化されたマシーンを駆動し、それにより第二のディスクドライブを搬送しているディスクドライブ搬送器を第二のテストスロットと装填ステーションの間で動かすことと、第二のテストスロットと装填ステーションの間の動き中にディスクドライブ搬送器が第二のディスクドライブにクランプされるように、クランプ機構を動作させるように自動化されたマシーンを駆動することと、を更に含む請求項７５の方法。 請求項77 ディスクドライブ搬送器と第二のディスクドライブを装填ステーションにおけるディスクドライブレセプタクル（２２４）中に挿入するように自動化されたマシーンを駆動すること、を更に含む請求項７６の方法。 請求項78 ディスクドライブ搬送器を第一のテストスロット中に挿入するように自動化されたマシーンを駆動することと、それから、クランプ機構を動作させるように自動化されたマシーンを駆動し、それによりディスクドライブ搬送器が第一のテストスロット中に挿入された後にディスクドライブ搬送器を第一のテストスロットにクランプすることと、を更に含む請求項６４〜６８または７１〜７７のいずれか一つの方法。 請求項79 テストのためのディスクドライブ（６００）を搬送する方法であって、自動化されたマシーン（３００）を駆動し、それにより第一のディスクドライブを搬送しているディスクドライブ搬送器（４００、４００ｂ、４００ｃ）を第一のテストスロット（５００、５００ｂ）と第二のテストスロット（５００、５００ｂ）の間で動かすことと、第一のテストスロットと第二のテストスロットの間の動き中にディスクドライブ搬送器が第一のディスクドライブにクランプされるように、クランプ機構（４５０）を動作させるように自動化されたマシーンを駆動することと、を含む方法。 請求項80 クランプ機構を動作させるように自動化されたマシーンを駆動することは、ディスクドライブ搬送器を第一のテストスロットと第二のテストスロットの間で動かすことに先立って、ディスクドライブ搬送器を第一のディスクドライブにクランプすることを含む、請求項７９の方法。 請求項81 クランプ機構を動作させるように自動化されたマシーンを駆動することは、ディスクドライブ搬送器が第一のテストスロットと第二のテストスロットの間で動かされるにつれて、ディスクドライブ搬送器を第一のディスクドライブにクランプすることを含む、請求項７９の方法。 請求項82 ディスクドライブ搬送器を第一のテストスロットと第二のテストスロットの間で動かすことは、第一のディスクドライブを搬送しているディスクドライブ搬送器を第一のテストスロットから第二のテストスロットに向けて動かすことを含む、請求項７９〜８１のいずれか一つの方法。 請求項83 クランプ機構を動作させるように自動化されたマシーンを駆動し、それにより第一のテストスロットからディスクドライブ搬送器をクランプ解除することと、それから、ディスクドライブ搬送器を第一のテストスロットから取り除くように自動化されたマシーンを駆動することと、を更に含む請求項８２の方法。 請求項84 クランプ機構を動作させるように自動化されたマシーンを駆動し、それによりディスクドライブ搬送器を第一のテストスロットから取り除くことに先立って第一のディスクドライブからディスクドライブ搬送器をクランプ解除すること、を更に含む請求項８３の方法。 請求項85 クランプ機構を動作させるように自動化されたマシーンを駆動し、それにより第一のディスクドライブからディスクドライブ搬送器をクランプ解除することと、それから、ディスクドライブ搬送器と第一のディスクドライブを第二のテストスロット中に挿入するように自動化されたマシーンを駆動することと、を更に含む請求項８３の方法。 請求項86 クランプ機構を動作させるように自動化されたマシーンを駆動し、それによりディスクドライブ搬送器と第一のディスクドライブが第二のテストスロット中に挿入された後にディスクドライブ搬送器を第二のテストスロットにクランプすること、を更に含む請求項８５の方法。
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